측정 데이터를 히스토그램으로 보거나 측정 통계를 확인하면 장시간 동안 신호 파라미터가 어떻게 변하는지를 추적하여 편차, 간헐적 이상신호, 안정성과 같은 신호 품질 문제를 발견할 수 있습니다. 이 애플리케이션 노트에서 텍트로닉스 DMM4050 및 DMM4040 멀티미터의 통합 분석 기능을 통해 장치의 분석 기능을 간소화하는 방법에 대해 알아보십시오.

DMM4050 및 DMM4040 멀티미터에서 TrendPlot™ 으로 데이터로깅
어려운 문제를 해결하기 위해서는 많은 양의 데이터를 로깅하거나 장시간에 걸친 측정 동향을 추적해야 합니다. 하지만 기존 정밀 디지털 멀티미터는 이러한 기능을 제공하지 않습니다. 이 애플리케이션 노트에서 텍트로닉스 DMM4050 및 DMM4040 벤치 멀티미터가 TrendPlot™ 의 고유한 기능을 통해 어떻게 이 문제를 해결하는지 알아보십시오.

DMM 시리즈를 사용하여 단순하고 정밀한 저항 측정 수행
두 개의 와이어를 사용하여 저항을 측정하는 것은 편리하지만 측정 오류를 일으킵니다. 이 애플리케이션 노트에서 DMM4000 시리즈의 새로운 개념, 즉 단 두 개의 리드선으로 4와이어 저항을 측정하는 방법에 대해 알아보십시오.